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1	シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques 上浦 洋一 リアライズ社 (1997) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529620 並木 単行書16 621.382|U|05573 在架（利用可能）

合計: 1

資料の形態

• 冊子体 (1)

図書館

• 並木 (1)

コレクション

言語

• 日本語 (1)

出版日

• 1990 - 1999 (1)

予約可能

• はい (1)

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