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1	Microscopy and Microanalysis Microscopy Society of America Microbeam Analysis Society Microscopical Society of Canada Springer-Verlag ISSN: 14319276 所蔵情報: 【並木】＜年次:2008-2008＞Vol.14
2	Introduction to analytical electron microscopy Hren, John J. Goldstein, Joseph Joy, David C. Plenum Press (1979) UDC: 537.533.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 524741 並木 単行書9 537.533.||04377 在架（利用可能）
3	Physical aspects of electron microscopy and microbeam analysis Siegel, Benjamin M. Electron Microscopy Society of America Beaman, Donald Robert edited by Benjamin M. Siegel, Donald R. Beaman Wiley (1975) UDC: 621.385.833 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 205664 並木 単行書22 621.385.833|S|5820 在架（利用可能）

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