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1 Diffusion and Defect Data Pt A : Defect and Diffusion Forum 定期刊行物 冊子体
ISSN: 16629507
所蔵情報: 【千現】<年次:1988-2009>Vol.57-212,249-286
2 Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors : Proceedings of The 5th International Workshop (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August・September 1998 Vols.63-64 Vols.63-64 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217984 千現 単行書9 画像 548.526|D|10776 在架(利用可能)
3 Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218799 千現 単行書9 画像 548.526|D|11471 在架(利用可能)
4 Contemporary Studies in Condensed Matter Physics : Proceedings of The Symposium on Condensed Matter Physics ( SFKM'97 ), Kladovo, Yugoslavia, 29 Sept.-1 Oct. 1997 Vol.61-62 Vol.61-62 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217873 千現 単行書9 画像 548.526|D|10674 在架(利用可能)
5 Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219336 千現 単行書9 画像 548.526|D|11789 在架(利用可能)
6 Defects and Diffusion in Ceramics : An Annual Retrospective 1 Vol.164 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217923 千現 単行書8 画像 548.526|D|10716 在架(利用可能)
7 Defects and Diffusion in Semiconductors : An Annual Retrospective Vols.162-163 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
217895 千現 単行書8 画像 548.526|D|10689 在架(利用可能)
8 Defects in Semiconductors Ⅰ NCDS -1: Proceedings of The 1st National Conference on Defects in Semiconductors, held in St.Petersburg, Russia, April 26-30, 1992 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216465 千現 単行書3 画像 537.311|B|T-1530 在架(利用可能)
9 Diffusion & Defect Data Pt.B Vol.34 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216446 千現 単行書8 画像 548.526|D| 在架(利用可能)
10 Diffusion & Defect Data pt.A Vol.99-100 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
216430 千現 単行書8 画像 548.526|| 在架(利用可能)

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