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61 Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 4 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219286 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1200 在架（利用可能）
62 Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 3 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219285 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1199 在架（利用可能）
63 Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219283 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1197 在架（利用可能）
64 Proceedings of the 18th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-18, Sendai, Japan, July 23-28, 1995 pt. 2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219284 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1198 在架（利用可能）
65 Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991 pt. 3 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219282 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1196 在架（利用可能）
66 Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991 pt. 2 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219281 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1195 在架（利用可能）
67 Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991 pt. 1 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219280 並木 単行書22 画像 621.315.|D|ｷ1194 在架（利用可能）
68 Nucleation and the properties of undercooled melts 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219171 並木 単行書25 画像 669|M|11696 在架（利用可能）
69 Scanning probe microscopies : from surface structure to nano-scale engineering 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219030 並木 単行書25 画像 669|M|11569 在架（利用可能）
70 Composite materials for electronic functions 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219028 並木 単行書25 画像 669|M|11567 在架（利用可能）

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