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半導体 : 先端技術を支える

杉上, 孝二通商産業調査会 (1984) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
602567	並木	単行書16	621.382\|S\|	在架（利用可能）

半導体デバイス工程評価技術ライフタイム、DLTS評価を中心として

宇佐美晶徳田豊リアライズ社 (1990) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529622	並木	単行書16	621.382\|U\|05575	在架（利用可能）

シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529620	並木	単行書16	621.382\|U\|05573	在架（利用可能）

半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策

黒田司岩黒弘明リアライズ社 (1992) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
529619	並木	単行書16	621.382\|k\|05572	在架（利用可能）

次世代ＵＬＳＩ多層配線の新素材・プロセス技術

吉川公麿 [監修] 技術情報協会 (2000) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
218846	千現	単行書11	621.382\|Y\|11481	在架（利用可能）

クライオエレクトロニクス入門

中村彬オーム社 (1980) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
527874	並木	単行書16	621.382\|N\|04295	在架（利用可能）

トランシ゛スタ−

菊地誠六月社 (1960) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204315	千現	単行書11	621.38\|K\|576	在架（利用可能）

超高速バイポーラ・デバイス 1 １

永田穣永田穣培風館 (1985) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
204468	千現	単行書11	621.382\|C\|8014	在架（利用可能）

超高速ジョセフソン・デバイス４巻４

早川尚夫早川尚夫培風館 (1986) UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
207480	千現	単行書11	621.382\|C\|8002	在架（利用可能）

超高速ジョセフソン・デバイス４巻

早川尚夫早川尚夫培風館 UDC: 621.382

所蔵情報ID	図書館	本棚	請求記号	貸出状態
215191	千現	単行書11	621.382\|Ｈ\|T-1063	在架（利用可能）

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