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1
Beam Injection Assessment of Defects in Semiconductors : Proceedings of The 5th International Workshop (BIADS 98), held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August・September 1998 Vols.63-64 Vols.63-64
M. Kittler O. Breitenstein A. Endros [et al. editors]
Scitec Publications Ltd
(1998)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217984
千現
単行書9
548.526|D|10776
在架(利用可能)
2
Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79
Editors: Hajime Tomokage, Takashi Sekiguchi
Scitec Publications Ltd
(2001)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218799
千現
単行書9
548.526|D|11471
在架(利用可能)
3
Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86
Editor: S. Pizzini
Scitec Publications Ltd
(2002)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219336
千現
単行書9
548.526|D|11789
在架(利用可能)
4
Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.111-112
Scitec Publications Ltd
(1994)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
213214
千現
単行書8
548.526|D|
在架(利用可能)
5
Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.113-114
Scitec Publications Ltd
(1994)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
213215
千現
単行書8
548.526|D|
在架(利用可能)
6
Diffusion and Reactions : Proceedings of the 2nd International Conference, held in Zakopane, Poland, September 14-18, 1999 Vol.72 Vol.72
Editor: M. Danielewski
Scitec Publications Ltd
(2000)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218393
千現
単行書9
548.526|D|11127
在架(利用可能)
7
Diffusion in Materials : DIMAT-96 : Proceeding of the International Conference on Diffusion in Materials, held in Nordkirchen, Germany, August 5th to 9th, 1996 Vols.143-147 Part.2
Editors: H. Mehrer, Chr. Herzig, N.A. Stolwijk
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
217494
千現
単行書8
548.526|D|10385
在架(利用可能)
8
Diffusion in Materials : DIMAT2000 : Proceeding of the Fifth International Conference on Diffusion in Materials Paris France July 17-21, 2000 Vols.194-199 Part.2
Editor: Y. Limoge, J.L. Bocquet
Scitec Publications Ltd
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218907
千現
単行書8
548.526|D|11495
在架(利用可能)
9
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST '95 : Proceedings of the 8th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, Hoor, Schweden, September 25-28, 1999 Vols. 69-70 Vols.69-70
Editor: H.G. Grimmeiss, L. Ask, M. Kleverman, M. Kittler and H. Richter
Scitec Publications Ltd
(1999)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218112
千現
単行書9
548.526|D|10863
在架(利用可能)
10
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001 : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001 Vols. 82-84 Vols.82-84
Editor: V. Raineri, F. Priolo, M. Kittler and H. Richter
Scitec Publications Ltd
(2002)
UDC: 548.526
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219032
千現
単行書9
548.526|D|11571
在架(利用可能)
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合計: 16
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資料の形態
冊子体 (16)
図書館
千現 (16)
コレクション
言語
English (16)
出版日
2000 - 2009 (8)
1990 - 1999 (6)
予約可能
はい (16)
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