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1 Local Lattice Rotations and Dislinations in Microstructures of Distorted Crystalline Materials Vol. 87 Vol.87 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219337 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|11790 在架(利用可能)
2 Defect Interaction and Clustering in Semiconductors Vols.85-86 Vols.85-86 冊子体
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219336 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|11789 在架(利用可能)
3 Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors BIAMS 2000: Proceedings of the 6th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors held in Fukuoka, Japan, November 12-16, 2000 Vols. 78-79 Vols.78-79 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218799 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|11471 在架(利用可能)
4 Special Defects in Semiconducting Materials Vol.71 Vol.71 冊子体
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218373 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|11107 在架(利用可能)
5 Ultra clean processing of silicon surfaces : proceedings of the Fourth International Symposium on ultra clean processing of silicon surfaces held in Ostend, Belgium, September 21-23, 1998 冊子体
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218003 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|10794 在架(利用可能)
6 Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.113-114 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
213215 並木 集密書庫8 画像 548.526|D| 在架(利用可能)
7 Diffusion and Defect Data Pt.A Vol.111-112 冊子体
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213214 並木 集密書庫8 画像 548.526|D| 在架(利用可能)
8 Beam injection assessment of defects in semiconductors : proceedings of the 5th workshop on beam injection assessment of defects in semiconductors held in Parkhotel Schloss Wulkow near Berlin, Germany, August 30-September 3, 1998 冊子体
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217984 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|10776 在架(利用可能)
9 Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology GADEST 2001 : Proceedings of the 9th International Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, S. Tecla, Italy September 30-October 3, 2001 Vols. 82-84 Vols.82-84 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219032 並木 集密書庫8 画像 548.526|D|11571 在架(利用可能)

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