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11	薄膜の力学的特性評価技術 : トライボロジー・内部応力・密着性 金原 粲 [ほか] 金原 粲 [ほか] リアライズ社 (1992) UDC: 539.3 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 219451 千現 単行書5 539.3|K|11869 在架（利用可能）
12	半導体集積回路用レジスト材料ハンドブック [山岡亜夫 監修] リアライズ社 (1996) UDC: 620.2 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218065 千現 参考図書23 620.2|Y|10817 在架（利用可能）
13	半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 黒田 司 岩黒 弘明 リアライズ社 (1992) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529619 並木 単行書16 621.382|k|05572 在架（利用可能）
14	半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として 宇佐美 晶 徳田 豊 リアライズ社 (1990) UDC: 621.382 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 529622 並木 単行書16 621.382|U|05575 在架（利用可能）
15	非晶質シリカ材料応用ハンドブック Practical Manual for Amorphous Siliceous Materials 川副博司 他編 リアライズ社 (1999) UDC: 535 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 218072 千現 単行書3 535|K|10823 在架（利用可能）
16	ファインセラミックス評価技術集成 奥田 博 今中 治 監修 リアライズ社 (1984) UDC: (08)666 所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態 523279 並木 参考図書2 (08)666||04590 在架（利用可能） 貸出不可

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図書館

• 並木 (8)
• 千現 (8)

コレクション

言語

• 日本語 (16)

出版日

• 2000 - 2009 (2)
• 1990 - 1999 (11)
• 1980 - 1989 (3)

予約可能

• はい (15)
• いいえ (1)

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