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11
薄膜の力学的特性評価技術 : トライボロジー・内部応力・密着性
金原 粲 [ほか]
金原 粲 [ほか]
リアライズ社
(1992)
UDC: 539.3
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
219451
千現
単行書5
539.3|K|11869
在架(利用可能)
12
半導体集積回路用レジスト材料ハンドブック
[山岡亜夫 監修]
リアライズ社
(1996)
UDC: 620.2
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218065
千現
参考図書23
620.2|Y|10817
在架(利用可能)
13
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
黒田 司
岩黒 弘明
リアライズ社
(1992)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529619
並木
単行書16
621.382|k|05572
在架(利用可能)
14
半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として
宇佐美 晶
徳田 豊
リアライズ社
(1990)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529622
並木
単行書16
621.382|U|05575
在架(利用可能)
15
非晶質シリカ材料応用ハンドブック Practical Manual for Amorphous Siliceous Materials
川副博司 他編
リアライズ社
(1999)
UDC: 535
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
218072
千現
単行書3
535|K|10823
在架(利用可能)
16
ファインセラミックス評価技術集成
奥田 博
今中 治 監修
リアライズ社
(1984)
UDC: (08)666
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
523279
並木
参考図書2
(08)666||04590
在架(利用可能)
貸出不可
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1
2
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:
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合計: 16
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (16)
図書館
並木 (8)
千現 (8)
コレクション
言語
日本語 (16)
出版日
2000 - 2009 (2)
1990 - 1999 (11)
1980 - 1989 (3)
予約可能
はい (15)
いいえ (1)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON