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11 薄膜の力学的特性評価技術 : トライボロジー・内部応力・密着性 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
219451 千現 単行書5 画像 539.3|K|11869 在架（利用可能）
12 半導体集積回路用レジスト材料ハンドブック 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218065 千現 参考図書23 画像 620.2|Y|10817 在架（利用可能）
13 半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529619 並木 単行書16 画像 621.382|k|05572 在架（利用可能）
14 半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
529622 並木 単行書16 画像 621.382|U|05575 在架（利用可能）
15 非晶質シリカ材料応用ハンドブック Practical Manual for Amorphous Siliceous Materials 冊子体
所蔵情報ID 図書館 本棚 請求記号 貸出状態
218072 千現 単行書3 画像 535|K|10823 在架（利用可能）