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タイトル
1
半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として
宇佐美 晶
徳田 豊
リアライズ社
(1990)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529622
並木
単行書16
621.382|U|05575
在架(利用可能)
2
最新プラズマプロセスのモニタリング技術と解析・制御
林 康明
林 康明
リアライズ社
(1997)
UDC: 533.9
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529621
並木
単行書5
533.9|H|05574
在架(利用可能)
3
シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques
上浦 洋一
リアライズ社
(1997)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529620
並木
単行書16
621.382|U|05573
在架(利用可能)
4
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
黒田 司
岩黒 弘明
リアライズ社
(1992)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529619
並木
単行書16
621.382|k|05572
在架(利用可能)
5
薄膜の力学的特性評価技術 トライボロジー・内部応力・密着性
金原 粲
リアライズ社
(1992)
UDC: 539.3
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529618
並木
単行書8
539.3|k|05571
在架(利用可能)
6
熱分析の基礎と応用第 3版@−超伝導からバイオまで.その多彩な展開−
日本熱測定学会
日本熱測定学会
(株)リアライズ社
(1994)
UDC: 536.6
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
522702
並木
単行書6
536.6||
在架(利用可能)
検索語
:
詳細検索
合計: 6
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (6)
図書館
並木 (6)
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コレクション
言語
日本語 (6)
出版日
1990 - 1999 (6)
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予約可能
はい (6)
書き出し
RDF/XML
MODS
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TSV
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