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タイトル
1
半導体デバイス工程評価技術 ライフタイム、DLTS評価を中心として
宇佐美 晶
徳田 豊
リアライズ社
(1990)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529622
並木
単行書16
621.382|U|05575
在架(利用可能)
2
最新プラズマプロセスのモニタリング技術と解析・制御
林 康明
林 康明
リアライズ社
(1997)
UDC: 533.9
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529621
並木
単行書5
533.9|H|05574
在架(利用可能)
3
シリコン結晶欠陥の基礎物性とその評価法 Basic Properties of Defects in Silicon and Their Characterizing Techniques
上浦 洋一
リアライズ社
(1997)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529620
並木
単行書16
621.382|U|05573
在架(利用可能)
4
半導体デバイス界面の汚染・損傷の評価と対策
黒田 司
岩黒 弘明
リアライズ社
(1992)
UDC: 621.382
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529619
並木
単行書16
621.382|k|05572
在架(利用可能)
5
薄膜の力学的特性評価技術 トライボロジー・内部応力・密着性
金原 粲
リアライズ社
(1992)
UDC: 539.3
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
529618
並木
単行書8
539.3|k|05571
在架(利用可能)
6
熱電変換工学 −基礎と応用ー
坂田 亮
(㈱リアライズ社
(2001)
UDC: 536.2
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
522897
並木
単行書6
536.2|S|05553
貸出中
( 返却期限:
2024年05月18日 )
7
熱分析の基礎と応用第 3版@−超伝導からバイオまで.その多彩な展開−
日本熱測定学会
日本熱測定学会
(株)リアライズ社
(1994)
UDC: 536.6
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
522702
並木
単行書6
536.6||
在架(利用可能)
8
ファインセラミックス評価技術集成
奥田 博
今中 治 監修
リアライズ社
(1984)
UDC: (08)666
所蔵情報ID
図書館
本棚
請求記号
貸出状態
523279
並木
参考図書2
(08)666||04590
在架(利用可能)
貸出不可
検索語
:
詳細検索
合計: 8
検索結果のフィード
資料の形態
冊子体 (8)
図書館
並木 (8)
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コレクション
言語
日本語 (8)
出版日
2000 - 2009 (1)
1990 - 1999 (6)
1980 - 1989 (1)
予約可能
はい (7)
いいえ (1)
書き出し
RDF/XML
MODS
XLSX
TSV
JSON